设备名称： 植物荧光成像仪

型号：IMAGING -PAM

制造商： 德国WALZ 公司

技术指标：

• 荧光测量光源：44个蓝色LED，450 nm，测量光强度0.5 μmol m-2 s-1PAR，最大光化光强度2300 μmol m-2 s-1PAR，
         • 饱和脉冲光源强度：10000 μmol m-2 s-1PAR，距光源15cm处饱和脉冲强度：5000 μmol m-2 s-1PAR。
         • 测量参数：Ft、Fo、Fm、Fv/Fm、F、Fm’、Y(II)、Y(NO)、Y(NPQ)、NPQ、qN、qP、qL、ETR、Abs.、NIR、Red等。
         • 吸光系数测量光源：16个红光（650 nm）和16个近红外（780 nm）LED，用于测量样品PAR吸光系数。
         • 光源精度：2%。
         • 信号检测：1/2”数码相机CCD，640×480象素，采集速率30帧/秒。
         • CCD检测器波段范围：400nm-1000nm。
         • 光谱响应：450nm处量子效率≥70%；650nm处量子效率≥70%；780nm处量子效率≥70%。
         • 镜头：焦距可调，可根据需要调整样品的位置和对焦点；光圈可调，可对微弱荧光和超强荧光样品进行检测。
         • 信号放大器：设备采用选择性锁相放大器，可大幅提高图像信噪比。
         • 成像面积：10×13 cm。
         • LED阵列光源：所有LED光源处于同一平面，以保证成像面积内光场的均一性。
         • 光状态：静态或动态
         • A/D分辨率：12位
         • 读出噪音：低于12e
         • 满阱容量：≥70000e

功能特色：

       利用叶绿素荧光技术，以数码相机CCD为检测器，测量全叶片叶绿素荧光成像，其突出优点在于反映样品光合作用的横向异质性。全叶片光合作用分析（荧光成像）、叶片光合作用

的横向异质性检测。完全相同的条件下同时测量多个样品（植物、地衣、苔藓、微藻等）。胁迫损伤的早期检测、可测荧光诱导曲线并进行淬灭分析、可测快速光响应曲线（120 s内

完成，比光合放氧和气体交换等技术快得多）、可测量叶片吸光系数等。